爱德万测试(中国)管理有限公司

公司名称:爱德万测试(中国)管理有限公司
所属地区:上海市厂商类型:设备厂商
数据提供:上海集成电路行业协会推荐

公司简介

爱德万测试为全球半导体产业最大自动化测试设备 (ATE) 供应商。自动化测试设备是现今消费性电子产品、通讯、医疗设备、电脑、数位电视等许多产业赖以进行检测晶片功能规格、确保终端产品品质的工具。五十多年来,爱德万测试致力研发、不断追求创新,至今而能成为全球电子产业晶圆测试与分类解决方桉领导者。截至2013年3月31日止的会计年度,爱德万测试年营收达1,329亿日元 (合17亿美元)。

爱德万测试每年不惜投入巨额研发费用,2012年研发金额即高达3.75亿美金,并在日本、美国、德国分置三个、一个、三个研发中心,以此奠定卓越技术之厚实根基,稳居自动化测试设备领域优势地位。为满足客户对于先进测试系统的需求,爱德万测试在技术研发、产品商业化、安装与服务等方面所做的努力,亦备受全球半导体大厂一致肯定。自1954年创立至今,爱德万测试一直以领先的创新实力领导业界发展,坚持品质与可靠性至上的原则,矢志为客户提供最具成本竞争力的解决方桉,这也是爱德万测试能够赢得全世界晶片大厂信赖,产品广泛应用于现今关键制程元件测试的原因。

■ T2000 集成电路SoC测试系统--T2000是可扩展的平台。可允许客户使用在不断增长的模块列表中的最佳模块。扩展化的测试模块菜单能提供客户最大限度的灵活性,以及最大程度的利用系统和工程资源。通过安装不同的模块,T2000系统可使客户拥有极度灵活的配置,从而实现测试不同芯片。

■ V93000 SoC / Smart Scale--可扩展平台V93000在一台测试系统中,能够集合最快的数字测试、精确的模拟和射频测量资源。由于大多数功能已经被集成到系统的测试头中,V93000在提供优秀的速度同时保持最低的固有噪声。应用范围广泛,覆盖从最简单低端芯片到最复杂高端产品中所有的性能测试需求:DC,数字,模拟和射频。最大灵活度和可扩展性,在任意测试头中支持任意板卡的组合。

■ LCD驱动芯片测试系统:T6373、T6391

■ 渐进增值测试系统:EVA100 (Evolutionary Value Added Measurement System)

■ T7912 模拟信号测试系统--低成本的通用逻辑和模拟信号芯片的测试系统。T7912可以在同一平台上,根据用户的不同需求,选择从最小化到最大化的优化配置。并且在大规模量产时,支持多达八同测的高速/高精度测试。最高可达72pin的Par-pin结构的DC单元,可支持高速高精度模拟信号测试的完成。

■ T7910 模拟信号测试系统--T7910是为了测试电源芯片而专门设计的模拟信号测试系统。相比于之前的T7912, T7910提供了更多的功能和更好的性能,它以更少的Pin和更高的效率来完成电源芯片的测试。T7910可根据pin和芯片数量的需要,来选择最优的通道配置进行同测,实现高性能和低成本的芯片测试。根据芯片的管脚数以及同测数可选择2至16个芯片电源供电通道,以及6至48个I/O电源供电通道,从而实现最佳的通道配置。

■ 存储器测试系统:T5385/T5385ES、T5503、T5773/T5773ES、V6000 Memory、V93000 High Speed Memory、T5511、T5811、T5503HS、T5831/T5831ES

■ 加强型混合信号测试系统:T7723

■ 动态测试机械手系列:逻辑:M4742A、M4841、M4871

■ 存储:M6242、M6245

■ 驱动芯片测试系统:T6373 LCD

■ 图像传感器测试系统:DI产品系列:

■ 接口设备:HIFIX:Manual HiFIX、Wafer HiFIX、Cable-Connected HiFIX、SBC-TYPE HiFIX (Socket Board Change)、eSBC-TYPE HiFIX

■ Change Kit:M6242、M4841、M4741A

■ Advanced Probe Cards:SD300 NOR Flash probe card for the Advantest V series memory tester;SP300 DRAM probe card for the Advantest T series memory tester;SiFi Silicon MEMS probes on 300mm ceramic substrate

■ Performance Board性能测试用基板:Square-type Performance Board;Performance Board for Manual Test;1024-channel Square Frog Unit

■ 电子束刻蚀系统;F7000 1Xnm node resolution performance supports various applications from R&D to volume production;F5113 Low-Cost, High Throughput EB Lithography Tool Supports Ultrafine Pattern Fabrication for Diverse Substrates;3000 Low cost, high throughput EBDW system writes circuits of 65nm and smaller

■ 扫描电镜测量/成像系统:WAFER MVM-SEM®E3300 Series: E3110;MASK DR-SEM E5600 Series:E5610;MASK MVM-SEM®E3600 Series:E3620、E3630、E3640

■ SSD Test Systems:MPT3000 Enables Rapid SSD Development and Production Ramp with Flexible Test Solution;
MPT3000ES Provides Powerful SSD Test Tools at the Engineer’s Desk

■ 太赫兹光谱分析/成像系统:Terahertz Spectroscopy System TAS7400 Series;TAS7400 Series Detail information

■ Tera赫兹波谱/图形成像系统 TAS7500 系列:TAS7500 IM、TAS7500 SP、TAS7500 SU、TAS7500 SL

■ Tera赫兹波谱/图形成像分析平台:TAS7500 TS、TAS7400 TS

■ 3D 图形成像分析系统:TAS7000;Terahertz Powermeter:TAS5500

■ 电子测量仪器:频谱分析仪:U3741、U3751、U3771/U3772;跨域分析仪:U3841/U3851、U3872;板卡型网络分析仪:R3755A、R3760;渐进增值测试系统:EVA100 (Evolutionary Value Added Measurement System)

■ Leading Edge Products前沿产品:AirTapTM(Wireless Battery Charging)